雖然波長(zhǎng)色散型（WD-XRF）X射線熒光光譜儀與能量色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀同屬X射線熒光分析儀，它們產(chǎn)生信號(hào)的方法相同，得到的波譜或者能譜也極為相似，但由于采集數(shù)據(jù)的方式不同，ED-XRF與WD-XRF在原理和儀器結(jié)構(gòu)上有所不同，功能也有區(qū)別。

原理區(qū)別

X-射線熒光光譜法，是用X-射線管發(fā)出的初級(jí)線束輻照樣品，激發(fā)各化學(xué)元素發(fā)出二次譜線（X-熒光）。波長(zhǎng)色散型熒光光儀（WD-XRF）是分光晶體將熒光光束色散后，測(cè)定各種元素的含量。而能量色散型X射線熒光光儀（ED-XRF）是借助高分辨率敏感半導(dǎo)體檢測(cè)器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量分離X-射線光譜線，根據(jù)各元素能量的高低來測(cè)定各元素的量。由于原理不同，故儀器結(jié)構(gòu)也不同。

結(jié)構(gòu)區(qū)別

波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀（WD-XRF），一般由光源（X-射線管）、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測(cè)量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在一個(gè)精密的測(cè)角儀上，還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由于晶體的衍射，造成強(qiáng)度的損失，要求作為光源的X-射線管的功率要大，一般為２～３千瓦。但X-射線管的效率極低，只有１％的電功率轉(zhuǎn)化為X-射線輻射功率，大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫，所以X-射線管需要專門的冷卻裝置（水冷或油冷），因此波譜儀的價(jià)格往往比能譜儀高。能量色散型熒光光譜儀（ED-XRF），一般由光源（X-射線管）、樣品室和檢測(cè)系統(tǒng)等組成，與波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀的區(qū)別在于它用不分光晶體。

能量色散X射線熒光光譜儀優(yōu)勢(shì)

①儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，省略了晶體的精密運(yùn)動(dòng)裝置，也無需精度調(diào)整。還避免了晶體衍射所造成的強(qiáng)度損失。光源使用的X-射線管功率低，一般在100W以下，不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng)，空氣冷卻即可，節(jié)省電力。

②能量色散型熒光光儀的光源、樣品、檢測(cè)器彼此靠得很近，X-射線的利用率很高，不需要光學(xué)聚集，在累積整個(gè)光譜時(shí)，對(duì)樣品位置變化不象波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀那樣敏感，對(duì)樣品形狀也無特殊要求。

③在能量色散譜儀中，樣品發(fā)出的全部特征X-射線光子同時(shí)進(jìn)入檢測(cè)器，這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時(shí)累積和顯示全部能譜（包括背景）的基礎(chǔ)，也能清楚地表明背景和干擾線。因此，半導(dǎo)體檢測(cè)器X-射線光譜儀能比晶體X-射線光譜儀快而方便地完成定性分析工作。

④能量色散法的一個(gè)附帶優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量整個(gè)分析線脈沖高度分布的積分程度，而不是峰頂強(qiáng)度。因此，減小了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線波長(zhǎng)的漂移影響。由于同時(shí)累積還減小了儀器的漂移影響，提高凈計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時(shí)累積觀察和測(cè)量所有元素，而不是按特定譜線分析特定元素。因此，見笑了偶然錯(cuò)誤判斷某元素的可能性。